多光束光学滚摆测量激光干涉仪
世界领先的测量专家雷尼绍发布XM-60多光束激光干涉仪，只需一次设定即可在任意方向测量线性轴全部6个自由度。与传统激光测量技术相比，XM-60在易用性和省时方面做出了重大改进。随着对工件的公差要求越来越高，制造商需要考虑所有来自机床加工工件的误差源；角度误差以及线性和直线度误差。XM-60经过一次设定便可采集所有误差。这台多光束激光干涉仪专为机床市场而设计，充实了包括XL-80激光干涉仪、XR20-W无线型回转轴校准装置以及QC20-W无线球杆仪在内的雷尼绍校准产品线。XM-60利用XC-80环境补偿器对环境条件实施补偿。
XM-60多光束激光干涉仪具有获得专利的光学滚摆测量与光纤发射器这一独特技术，是一台高精度激光系统。轻型发射器远离激光源，从而减少测量点处的热影响。发射器可直接通过其侧面甚至后面安装到机器上或者上下倒置安装，非常适用于难以接近的机器区域。
减少测量的不确定度对任何用户都非常重要。雷尼绍XM-60直接测量机床误差，减少其他测量技术中使用复杂数学计算而产生的误差。直接测量可通过用户现有的XL-80测量零件程序对机器调整前后的精度进行快速、简单对比。接收器可进行完全无线操作，由充电电池供电，从而在机器移动中避免电缆拖拽，因为在测量过程中电缆拖拽可能会引起误差或激光束“断光”。
每一台XM-60多光束激光干涉仪的性能均可溯源至国际标准，而且在发货前已经过认证。这可以让客户确信他们的系统将在精度要求高的场合一如既往地提供高精度测量。
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为支持XM-60多光束激光干涉仪的推出，雷尼绍将发布全新版本CARTO软件包，指导用户完成测量过程。CARTO 2.0包含Capture（数据采集）和Explore（数据浏览）功能，目前用于XL-80激光干涉仪系统的数据采集和分析。CARTO用户界面可轻松根据不同的用户需求进行配置，能够改变黑、白背景并显示定制。支持平板电脑，具有扩展菜单部分，适合在小型屏幕进行操作。自动保存测试方法，因此重复测试的用户可调用较早的一个测试。
Capture 2.0提供一个全新的零件程序生成器，支持Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix以及Siemens 840D等系列控制器，以后的版本中将支持更多控制器类型。其另一高级功能是在程序中基于用户所选的平均周期，自动设定延时时间，并在使用XL-80系统时通过“时间匹配”模式支持定时采集。在XM-60模式下，Capture 2.0使用校准规直线度测量功能，更为方便。
XM-60为用户提供一次移动后测量所有自由度的强大的机床诊断功能。通过在任何测量中一次采集三种线性误差源和三种旋转误差源，用户可以发现他们的特定误差源；当只测量线性精度时看到的是各误差源对线性精度的影响结果，而不是具体误差源。利用Explore 2.0应用可处理所有数据，提供所有六个数据通道摘要视图，每个误差都可以根据相对应的一系列国际标准进行显示。在Explore 2.0中可对大量数据进行轻松管理。用户定义标签能够分配至数据库中保存的任何测试或测试组，可利用这些标签进行数据筛选。
雷尼绍XM-60多光束激光干涉仪存放在一个坚固的Peli™系统便携箱中，便携箱有足够的空间来放置附件以及XC-80补偿器组件。此便携箱可用于激光系统的安全存储以及运输，在许多应用场合，激光装置不用从便携箱中取出即可执行测量，简化了操作。提供可选夹具组件，用于将XM-60安装在机床上，夹具组件存放在便携箱中，便于运输。
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